薄膜介電常數介質損耗測試儀

LJD系列 介電常數測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置，標準介質樣品組成，能對薄膜、各種板材及液態絕緣材料進行高低頻介電常數(ε)和介質損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。     

LJD系列介電常數測試儀工作頻率范圍是20Hz～5MHz,它能完成工作頻率內對絕緣材料的相對介電常數(ε)和介質損耗角 (D或tanδ)變化的測試。

LJD系列中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數通過公式計算得到。

1薄膜介電常數介質損耗測試儀? 特點：                            
◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值精度和重復性。

◎ 介電常數測量范圍可達1～10⁵

2 薄膜介電常數介質損耗測試儀主要技術指標：

2.1 ε和D性能：

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率20Hz～5MHz的ε和D變化的測試。

2.1.2 ε和D測量范圍：ε：1～10⁵，D：0.1～0.00005，

2.1.3 ε和D測量精度（10kHz）：ε：±2% ，  D：±5%±0.0001。

2.2高頻阻抗分析儀和數字電橋

2.3 DL916B 介電常數測試裝置（含保護電極）

2.3.1 平板電容器極片尺寸：Φ5mm、Φ38mm和Φ50mm三種可選.
2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率：0～8mm， ±0.001mm
2.3.3插頭間距：與電橋四端配合

2.3.4加溫控溫裝置(選購設備)可以完成高200℃控溫精度l℃加熱測試。

2.4 Agilent 16451B 介質材料測試裝置提供四種不同直徑測試電極，

能對直徑φ10～56mm，厚度<10mm的試樣精確測量。它針對不同試樣

可設置為接觸電極法，薄膜電極法和

非接觸法三種，以適應軟材料，表面不平整和薄膜試樣測試。

2.4.1 微分頭分辨率：10μm

2.4.2 z高耐壓：±42Vp（AC+DC）

2.4.3 電纜長度設置：1m

2.4.4 z高使用頻率：30MHz 

2.5 高頻介質樣品（選購件）：
  在現行高頻介質材料檢定系統中，檢定部門為高頻介質損耗測量儀提供的測量標準是高頻標準介質樣品。該樣品由人工藍寶石，石英玻璃，氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。

用戶可按需訂購，以保證測試裝置的重復性和準確性。

2.6 LJD系列 介電常數測試儀配置